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集成测试框架
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(美)坎宁安(Cunningham,W.)/(美)穆格雷珠(Mugridge,R.) | 电子工业出版社
ISBN:9787121040948
原价: ¥45.00
销售价:¥8.09元
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分类 软件工程/开发项目管理
作者 (美)坎宁安(Cunningham,W.)/(美)穆格雷珠(Mugridge,R.)
出版社 电子工业出版社
图书简介

本书展示了如何通过Fit解释业务规则,利用具体示例予以表达,并将示例组织到测试表格里,将测试驱动贯穿于整个软件开发生命周期中。本书从现有的实践开始,对软件开发的两大方面进行改进,来提高开发人员的适应性及敏捷性。本书适合有经验的程序开发者阅读。

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