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碳化硅晶体生长与缺陷
碳化硅晶体生长与缺陷
施尔畏 | 科学出版社
ISBN:9787030341280
原价: ¥380.00
销售价:¥300.00元
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分类 地质学
作者 施尔畏
出版社 科学出版社
图书简介

《碳化硅晶体生长与缺陷》系统地介绍了物理气相输运(PVT)法碳化硅晶体生长与缺陷研究方面的工作,由碳化硅晶体的多型结构与表征、碳化硅晶体的PVT法生长、气相组分Simcn和碳化硅晶体的生长机制、碳化硅晶体的结晶缺陷四部分组成。《碳化硅晶体生长与缺陷》从碳化硅晶体结构出发,把气相组分作为贯穿生长原料分解升华、系统中的质量∕能量输运、生长界面的结晶过程、晶体中缺陷的繁衍与发育等的一条主线,从而使读者对PVT法碳化硅晶体生长的复杂系统和过程有一个全面的、深入的认识和理解。

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